高壓陶瓷電容器的可靠性測(cè)試,也叫老化測(cè)試,壽命測(cè)試,包括很多方面的測(cè)試內(nèi)容:
?1,耐壓實(shí)驗(yàn),包括額定工作電壓24小時(shí)工作測(cè)試;也包括擊穿耐壓,即破壞性測(cè)試,電容被擊穿前的那一個(gè)臨界電壓就是擊穿電壓。
?2,串聯(lián)電阻測(cè)試,絕緣電阻測(cè)試;
?3,拉力測(cè)試,即引線與芯片焊接的牢固度;
?4,正負(fù)溫變化率測(cè)試,即-40度到+60度狀況下,電容的變化率;
?5,老化測(cè)試,電容在模擬工作環(huán)境狀態(tài)下運(yùn)作30~60天,測(cè)試其衰減其各項(xiàng)參數(shù)的變化;
?6,壽命測(cè)試,即在老化測(cè)試的基礎(chǔ)上,再對(duì)電容進(jìn)行高頻沖電流下快速充放電測(cè)試,得到的充放電次數(shù)就是充放電壽命,注意,這個(gè)壽命的得出是在長(zhǎng)時(shí)間的老化之后得出的。
?7,局放測(cè)試,即局部放電測(cè)試。
當(dāng)然,在這些測(cè)試過程中,我們可以得出各種參數(shù),如額定電壓,擊穿電壓,過電流,工作頻率,容量變化率,絕緣電阻,等。每一種電容在研發(fā)與生產(chǎn)配料再次生產(chǎn)時(shí),都要重新進(jìn)行測(cè)試,才能準(zhǔn)確判斷產(chǎn)品是否合格。
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