三維掃描儀的接觸模式與非接觸模式

：接觸式掃描式

接觸式三維掃描儀透過實際觸碰物體表面的方式計算深度，如座標(biāo)測量機(jī)（CMM， Coordinate Measuring Machine）即典型的接觸式三維掃描儀。此方法相當(dāng)準(zhǔn)確，常被用于工程制造產(chǎn)業(yè)，然而因其在掃描過程中必須接觸物體，待測物有遭到探針破壞損毀之可能，leo手持式三維掃描儀，因此不適用于高價值對象如古物、遺跡等的重建作業(yè)。此外，手持式三維掃描儀，相較于其他方法接觸式掃描需要較長的時間，現(xiàn)今最快的座標(biāo)測量機(jī)每秒能完成數(shù)百次測量，而光學(xué)技術(shù)如激光掃描儀運作頻率則高達(dá)每秒一萬至五百萬次。

：非接觸主動式

掃描主動式掃描是指將額外的能量投射至物體，借由能量的反射來計算三維空間信息。常見的投射能量有一般的可見光、高能光束、超音波與X射線。

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三維掃描儀(3D scanner) 是一種科學(xué)儀器，用來偵測并分析現(xiàn)實世界中物體或環(huán)境的形狀(幾何構(gòu)造)與外觀數(shù)據(jù)(如顏色、表面反照率等性質(zhì))。大體分為接觸式三維掃描儀 和非接觸式三維掃描儀 。其中非接觸式三維掃描儀又分為光柵三維掃描儀(也稱拍照式三維描儀)和激光掃描儀。而光柵三維掃描又有白光掃描或藍(lán)光掃描等，激光掃描儀又有點激光、線激光、面激光的區(qū)別。

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折疊結(jié)構(gòu)光源：將一維或二維的圖像投影至被測物上，Artec手持式三維掃描儀，根據(jù)圖像的形變情形，判斷被測物的表面形狀，可以非?？斓乃俣冗M(jìn)行掃描，相對于一次測量一點的探頭，此種方法可以一次測量多點或大片區(qū)域，故能用于動態(tài)測量。折疊調(diào)變光使用投影機(jī)將正弦波調(diào)變之光柵投射于書本上。
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