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    預計算/MTBF 編輯
    設有一個可修復的產(chǎn)品在使用過程中，共計發(fā)生過N0次故障，每次故障后經(jīng)過修復又和新的一樣繼續(xù)投入使用，其工作時間分別為：T0，T1。那么產(chǎn)品的平均故障間隔時間，也就是平均壽命為Q為：（T0+T1）/N0。
    通常，我們在產(chǎn)品的手冊或包裝上能夠看到這個MTBF值，如8000小時，2萬小時，那么，MTBF的數(shù)值是怎樣算出來的呢，假設一臺電腦的MTBF 為3萬小時，是不是把這臺電腦連續(xù)運行3萬小時檢測出來的呢？答案是否定的，如果是那樣的話，我們有那么多產(chǎn)品要用幾十年都檢測不完的。其實，關(guān)于 MTBF值的計算方法，目前最通用的權(quán)威性標準是MIL-HDBK-217、GJB/Z299B和Bellcore，分別用于軍工產(chǎn)品和民用產(chǎn)品。其中，MIL-HDBK-217是由美國國防部可靠性分析中心及Rome實驗室提出并成為行業(yè)標準，專門用于軍工產(chǎn)品MTBF值計算，GJB/Z299B是我國軍用標準；而Bellcore是由AT&TBell實驗室提出并成為商用電子產(chǎn)品MTBF值計算的行業(yè)標準。
    MTBF計算中主要考慮的是產(chǎn)品中每個器件的失效率。但由于器件在不同的環(huán)境、不同的使用條件下其失效率會有很大的區(qū)別，例如，同一產(chǎn)品在不同的環(huán)境下，如在實驗室和海洋平臺上，其可靠性值肯定是不同的；又如一個額定電壓為16V的電容在實際電壓為25V和5V下的失效率肯定是不同的。所以，在計算可靠性指標時，必須考慮上述多種因素。所有上述這些因素，幾乎無法通過人工進行計算，但借助于軟件如MTBFcal軟件和其龐大的參數(shù)庫，我們就能夠輕松的得出MTBF值。

    二、MTBF試驗法
    1、試驗方法，實驗方式主要有：全壽命試驗、定時截尾試驗、定數(shù)截尾試驗。
    全壽命試驗要求所有樣品都在試驗中最終都失效，只需要采用簡單的算術(shù)平均值就可以計算出MTBF。但事實上需要試驗樣品在試驗過程中全部失效，所需要的試驗時間可能長大幾年、十幾年甚至上百年，因此此方法只可能使用于產(chǎn)品的壽命時間比較短的產(chǎn)品。
    定時截尾試驗指試驗到規(guī)定的時間終止。
    定數(shù)截尾試驗指試驗到出現(xiàn)規(guī)定的故障數(shù)或失效數(shù)時而終止。
    2、計算方法 MTBF=AF*
    AF：Accelerate Factor，加速因子
    T：Total Power on Time，總的開機運行時間
    X2(α,2r+2)：卡方公式
    C：Confidential Level，信心度水平
    α：生產(chǎn)者的冒險率，即：1-C
    r：失效數(shù)，Number of Failures
    加速因子AF即為產(chǎn)品在正常使用條件下的壽命和高測試應力條件下的壽命的比值。
    如果溫度是產(chǎn)品唯一的加速因素，一般采用Arrhenius Model（阿氏模型）。當產(chǎn)品壽命適用于阿氏模型，則其加速因子公式為：AF=e{ Ea/Kb*[1/Tn-1/Ta]}。
    Ea：活化能，單位eV
    Kb：Boltzmann Constant波茲曼常數(shù)，(0.00008623eV/°k)
    Tn：正常操作條件絕對溫度(°k)
    Ta：加速壽命試驗條件絕對溫度(°k)
    E：2.718
    活化能Ea定義：是分子與化學或物理作用中需具備的能量，單位為eV (electron-Volts)。用以超越阻隔潛在故障與實際失效所需的能量。
    活化能高，表示對溫度變化影響比較顯著。當試驗的溫度與使用溫度差距范圍不大時，Ea可設為常數(shù)。
    一般電子產(chǎn)品在早夭期失效的Ea為0.2~0.6eV，正常有用期失效的Ea趨近于1.0eV；衰老期失效的Ea大于1.0eV。
    根據(jù)Compaq可靠度工程部（CRE）的測試規(guī)范，Ea是機臺所有零件Ea的平均值。如果新機種的Ea無法計算，可以將Ea設為0.67eV，做常數(shù)處理。
    卡方公式是一個評估可信度的公式。信心度水平相當于對MTBF準確性的要求，因此冒險率越小，X2就越大，計算的MTBF越小，可信度越高。同時失效數(shù)r越大，不良率就高了，X2自然也變大，在同樣的時間下MTBF就會變小。
    例：30臺樣品，信心度為0.6，MTBF目標值為240000小時，用戶使用溫度為35度，測試溫度為40度。假設在測試11天后，有一臺失效，替換失效樣品，即仍然是30臺接著測試，求繼續(xù)測試時需要的總時間t及MTBF測試要用的天數(shù)d。
    解：MTBF=240000h，AF=1.47，C=0.6，α=1-C=0.4，r=1， X2(α,2r+2)=4.04
    此方式是目前選擇較多的方法。

    MTBF最后一種方法就是實際測試法，這個是針對標準去進行測試，可以蓋CNAS章，CMA

    按MTBF測試標準，準確的提供樣品數(shù)量進行相關(guān)測試。
    可靠性測試

    環(huán)境試驗是產(chǎn)品環(huán)境工程中重要的一環(huán)，是確保和判別經(jīng)過耐環(huán)境設計的產(chǎn)品在儲存、運輸、使用過程中能否達到環(huán)境適應性要求的最重要手段，通過環(huán)境試驗可以分析和驗證各種環(huán)境因素對產(chǎn)品效能的影響程度及作用機理。

    機械類測試

    機械類測試是評定元器件、零部件及整機在預期的存儲、運輸及使用環(huán)境中抵抗機械應力能力的有效方法。對產(chǎn)品的影響主要有：造成結(jié)構(gòu)損壞（如結(jié)構(gòu)變形、產(chǎn)品裂紋或斷裂）、產(chǎn)品功能失效（如接觸不良、繼電器誤動作）、工藝性破壞（如螺釘或連接件松動、脫焊）等。
    測試項目：
    振動測試 GB/T 2423.10；IEC 60068-2-6；EN 60068-2-6；GB/T 2423.56；IEC 60068-2-64；EN 60068-2-64;GB/T 4857.7；ISO 2247；
    沖擊測試 GB/T 2423.5；IEC 60068-2-27；EN 60068-2-27；
    碰撞測試 GB/T 2423.6；IEC 60068-2-27；EN 60068-2-27；
    跌落測試 GB/T 2423.8；GB/T 4857.5；ISO 2248；
    錘擊測試(IK防護) GB/T 20138；IEC 62262；GB/T 2423.55；IEC 60068-2-75；

    MTBF，即平均無故障時間，英文全稱是Mean Time Between Failures。是衡量一個產(chǎn)品（尤其是電器產(chǎn)品）的可靠性指標。單位為小時。它反映了產(chǎn)品的時間質(zhì)量，是體現(xiàn)產(chǎn)品在規(guī)定時間內(nèi)保持功能的一種能力。具體來說，是指相鄰兩次故障之間的平均工作時間，也稱為平均故障間隔。它僅適用于可維修產(chǎn)品。同時也規(guī)定產(chǎn)品在總的使用階段累計工作時間與故障次數(shù)的比值為MTBF。磁盤陣列產(chǎn)品一般MTBF不能低于50000小時。MTBF值是產(chǎn)品設計時要考慮的重要參數(shù)，目前主流產(chǎn)品的平均無故障時間（MTBF）達到了100000小時以上?？煽慷裙こ處熁蛟O計師經(jīng)常使用各種不同的方法與標準來估計產(chǎn)品的MTBF值。

    可靠性測試

    環(huán)境試驗是產(chǎn)品環(huán)境工程中重要的一環(huán)，是確保和判別經(jīng)過耐環(huán)境設計的產(chǎn)品在儲存、運輸、使用過程中能否達到環(huán)境適應性要求的最重要手段，通過環(huán)境試驗可以分析和驗證各種環(huán)境因素對產(chǎn)品效能的影響程度及作用機理。

    氣候類測試

    氣候試驗是指為整機、電工電子元器件或材料提供的一種人工模擬氣候條件或加速試驗條件，以評估實際使用中氣候?qū)Ξa(chǎn)品或材料性能的預期影響，目的在于暴露產(chǎn)品在元器件選擇、結(jié)構(gòu)設計以及工藝方面的缺陷，以改進產(chǎn)品的氣候適應性能力。
    測試項目：
    鹽霧測試（交變鹽霧） GB/T 2423.17；IEC 60068-2-11；EN 60068-2-11； GB/T 2423.18；IEC 60068-2-52；EN 60068-2-52；GB/T 10125；ISO 9227；ASTM B 117；
    IP防護測試（IP代碼） GB 4208；IEC 60529；EN 60529；
    紫外測試（UV測試） GB/T 16422.3；ISO 4892.3；ASTM G 154；ASTM D 4674；
    氙燈測試 GB/T 16422.2；ISO 4892.2；ASTM G 155；
    人工汗液測試 ISO 3160-2




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