江蘇一六儀器??超微電子元器件芯片高精度鍍層測厚儀

技術(shù)參數(shù)：

元素分析范圍：氯（CI）-鈾（U）

厚度分析范圍：各種元素及有機(jī)物

一次性同時分析：23層鍍層，24種元素

厚度最di檢出限：0.005um

最xiao測量面積:0.002m㎡

膜厚儀一般來說和涂層測厚儀是一類產(chǎn)品。

膜厚儀一般是測氧化膜層厚度，膜厚儀原理，常見的鋁基，銅基氧化，測量時候用涂層測厚儀選擇N（非磁性）探頭，這樣測鋁基等氧化層也稱為膜厚儀。

涂層測厚儀正常情況下有兩種測量原理，配F合N探頭，膜厚儀，或者FN一體探頭。氧化層一般是幾微米到十幾微米，但是普通的涂層測厚儀誤差比較大，需要用高精度的涂層測厚儀測量氧化層，比如中科樸道的PD-CT2涂層測厚儀就可以測量氧化層。

江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。擁有先進(jìn)的技術(shù)，優(yōu)質(zhì)的良將，能夠應(yīng)付各種涂鍍層、膜層的檢測難題歡迎來電咨詢！

衛(wèi)浴板件類鍍層光譜測厚儀

儀器配置

微聚焦X射線裝置

信號放大器

微型移動滑軌

十二元素片

標(biāo)準(zhǔn)片Ni/Fe 5um

標(biāo)準(zhǔn)片Au/Ni/Cu 0.1um/2um

膜厚測試儀的此類校準(zhǔn)適用于N型測頭，并使用特殊的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片。

1.必須使用一試片法。

2.使用標(biāo)有“銅上鍍鉻”字樣的特殊標(biāo)準(zhǔn)片。

說明：在溫度變化極大的情況下，如冬季或盛夏在室外操作時，應(yīng)在與待測箔厚度接近的標(biāo)準(zhǔn)片上進(jìn)行校準(zhǔn)。校準(zhǔn)時的環(huán)境溫度應(yīng)與使用時的環(huán)境溫度一致。

江蘇一六儀器? ? ?X射線熒光鍍層膜厚儀? ? 穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進(jìn)的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。廣泛應(yīng)用于電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子等制造領(lǐng)域。

膜厚儀

采用磁感應(yīng)原理時，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通膜厚儀的大小，膜厚儀價格，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測厚儀，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時，膜厚儀，儀器自動輸出測試電流或測試信號。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，測量感應(yīng)電動勢的大小，儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。

江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗，經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作，研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進(jìn)的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。廣泛應(yīng)用于電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子等制造領(lǐng)域。 先進(jìn)的技術(shù)，專業(yè)的團(tuán)隊，嚴(yán)格的企業(yè)管理是公司得以不斷發(fā)展壯大、產(chǎn)品能夠贏得客戶信賴的根本所在。