天津瑞利光電科技有限公司優(yōu)勢經銷美國LUMETRICS波前測量儀ClearWave Plus
產品型號：ClearWave Plus
關鍵字：LUMETRICS波前測量儀ClearWave Plus
關鍵字描述：這為眼鏡制造商提供了中心厚度（CT），矢狀高度（SAG），直徑，曲率半徑以及所有當前需要三個立系統(tǒng)才能獲得的所有波陣面測量值。
產品介紹：
ClearWave Plus是眼鏡制造商的計量解決方案，可同時測量以下各項：
球體，圓柱體，軸
Zernike WaveFront像差
直徑，CT，凹陷
標簽功率
所有這些操作都只需一個按鈕即可實現。
ClearWave Plus將改良的ClearWave與行業(yè)標準OptiGauge厚度測量系統(tǒng)結合使用。這為眼鏡制造商提供了中心厚度（CT），矢狀高度（SAG），直徑，曲率半徑以及所有當前需要三個立系統(tǒng)才能獲得的所有波陣面測量值。由于ClearWave和OptiGauge系統(tǒng)已在全球的眼鏡制造商的研發(fā)實驗室和生產設施中實施，因此Lumetrics是相關測量解決方案的提供商。 ClearWave Plus在單一的操作員友好型解決方案中提供了這些產品中更好的產品，從而減少了對眼鏡的處理。ClearWave Plus設計用于快速，準確地檢查眼鏡。
參數：
高分辨率ClearWave波前傳感器（標準）：
101x101小透鏡陣列網格
視野：10.4 x 10.4毫米
空間分辨率：0.104毫米
球面范圍：-74至+37 D（典型濕鏡）
干球范圍為+8至-16屈光度
圓柱體范圍：典型濕鏡±27 D
干圓柱范圍為6（+/- 3）屈光度
球面像差精度0.004（干）
球差重復精度0.002 um（干）
棱鏡測量：
棱鏡測量0至3棱鏡屈光度，適用于干鏡
棱鏡精度0.1棱鏡屈光度
棱鏡重復性0.05棱鏡屈光度
尺寸測量：
直徑max.20mm，±25μm
厚度和CT
-方-低相干干涉法
-精度0.1μm
-重復性0.1μm
-測量波長1310nm
天津瑞利光電科技有限公司于2016年成立，坐落于渤海之濱天津，地理位置得天厚，交通運輸便利，進出口貿易發(fā)達。憑借著歐洲的采購中心，我們始終為客戶提供工業(yè)技術、高新科技等發(fā)達國家原裝進口的光電設備、光學儀器、機電設備及配件、電氣成套設備、工業(yè)自動化控制設備產品，同時擁有多個的授權經銷和代理權。
 

天津瑞利光電科技有限公司于2016年成立，坐落于渤海之濱天津，地理位置得天厚，交通運輸便利，進出口貿易發(fā)達。憑借著歐洲的采購中心，我們始終為客戶提供工業(yè)技術、高新科技等發(fā)達國家原裝進口的光電設備、光學儀器、機電設備及配件、電氣成套設備、工業(yè)自動化控制設備產品，同時擁有多個的授權經銷和代理權。