冷熱沖擊測(cè)試需要滿足很多試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)，本文以液體式冷熱沖擊箱為例。    1. GB/T2423.1-2001低溫試驗(yàn)方法；    2. GB/T2423.2-2001；    3. GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)N；    4. 標(biāo)GJB150.3-86；    5. 標(biāo)GJB150.4-86；    6. 標(biāo)GJB150.5-86；    7. GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)；    8. GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)；    9. GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn)；    10. SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式；    11. 滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化；    12. GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則；    13. GB/T 2423.22-2002溫度變化；    14. QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則；    15. EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測(cè)試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評(píng)估。 以上未提到的，關(guān)于冷熱沖擊測(cè)試中，引起溫度變化及溫度變化的現(xiàn)場(chǎng)條件在“GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn) 2部分 試驗(yàn)N:溫度變化”中有提到：    溫度變化的現(xiàn)場(chǎng)條件    電子設(shè)備和元器件中發(fā)生溫度變化的情況很普遍。當(dāng)設(shè)備未通電時(shí)，其內(nèi)部零件要比其外表面上的零件經(jīng)受的溫度變化慢。下列情況下，可預(yù)見(jiàn)快速的溫度變化：    ——當(dāng)設(shè)備從溫暖的室內(nèi)環(huán)境轉(zhuǎn)移到寒冷的戶外環(huán)境，或相反情況時(shí)；    ——當(dāng)設(shè)備遇到淋雨或浸入冷水中而突然冷卻時(shí)；    ——安裝于外部的機(jī)載設(shè)備中；    ——在某些運(yùn)輸和貯存條件下。    通電后設(shè)備中會(huì)產(chǎn)生高的溫度梯度，由于溫度變化，元器件會(huì)經(jīng)受應(yīng)力，例如，在大功率的電阻器旁邊，輻射會(huì)引起鄰近元器件表面溫度升高，而其他部分仍然是冷的。    當(dāng)冷卻系統(tǒng)通電時(shí)，人工冷卻的元器件會(huì)經(jīng)受快速的溫度變化。在設(shè)備的制造過(guò)程中同樣可引起元器件的快速溫度變化。溫度變化的次數(shù)和幅度以及時(shí)間間隔都是很重要的。冷熱沖擊試驗(yàn)檢測(cè)產(chǎn)品測(cè)試有什么標(biāo)準(zhǔn)冷熱沖擊試驗(yàn)又名溫度沖擊試驗(yàn)或高低溫沖擊試驗(yàn)，是將試驗(yàn)樣品交替暴露于低溫和高溫空氣（或合適的惰性氣體）中，使其經(jīng)受溫度快速變化的影響。用于考核產(chǎn)品對(duì)周圍環(huán)境溫度急劇變化的適應(yīng)性，是裝備設(shè)計(jì)定型的試驗(yàn)和批產(chǎn)階段的例行試驗(yàn)中不可缺少的試驗(yàn)，在有些情況下也可以用于環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)。需要進(jìn)行冷熱沖擊檢測(cè)的產(chǎn)品：電子通信類：手機(jī)、射頻器、電子通信元器件等，PCB、PCBA；電器類：家電、燈具、變電器等各類家電電器設(shè)備、儀器儀表、器械；計(jì)算機(jī)類：電腦、顯示屏、主機(jī)、電腦元器件、設(shè)備等精密儀器等；道路交通類：道路車輛電子電氣設(shè)備、軌道交通機(jī)車車輛設(shè)備與裝置、汽車零部件等其他：包裝箱、運(yùn)輸設(shè)備等。測(cè)試參考標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.22；IEC 60068-2-13；IEC 60068-2-14；EIA-364-32；MIL-STD-202；GJB 150.5等。冷熱沖擊試驗(yàn)又名溫度沖擊試驗(yàn)或高低溫沖擊試驗(yàn)，是用于考核產(chǎn)品對(duì)周圍環(huán)境溫度急劇變化的適應(yīng)性，是裝備設(shè)計(jì)定型的試驗(yàn)和批產(chǎn)階段的例行試驗(yàn)中不可缺少的試驗(yàn)，在有些情況下也可以用于環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)?？梢哉f(shuō)冷熱沖擊試驗(yàn)箱在驗(yàn)證和提高裝備的環(huán)境適應(yīng)性方面應(yīng)用的頻度僅次于振動(dòng)與高低溫試驗(yàn)。冷熱沖擊試驗(yàn)作為一種測(cè)試方法，應(yīng)用在產(chǎn)品研制的不同階段時(shí)有不同的目的：1、工程研制階段可用于發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和工藝缺陷；2、產(chǎn)品定型或設(shè)計(jì)和批產(chǎn)階段驗(yàn)收決策提供依據(jù)；3、作為環(huán)境應(yīng)力篩選應(yīng)用時(shí)，目的是剔除產(chǎn)品的早期故障。冷熱沖擊測(cè)試常見(jiàn)的執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)1、GJB 150《設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法》2、GB 2423《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》冷熱沖擊試驗(yàn)又名冷熱沖擊試驗(yàn)或高低溫沖擊試驗(yàn)，是將試驗(yàn)樣品交替暴露于低溫和高溫空氣（或合適的惰性氣體）中，使其經(jīng)受溫度快速變化的影響。用以確定元件，設(shè)備和其他產(chǎn)品經(jīng)受環(huán)境溫度迅速變化的能力。溫度沖擊試驗(yàn)是用于考核產(chǎn)品對(duì)周圍環(huán)境溫度急劇變化的適應(yīng)性，是裝備設(shè)計(jì)定型的試驗(yàn)和批產(chǎn)階段的例行試驗(yàn)中不可缺少的試驗(yàn)，在有些情況下也可以用于環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)?？梢哉f(shuō)冷熱沖擊試驗(yàn)箱在驗(yàn)證和提高裝備的環(huán)境適應(yīng)性方面應(yīng)用的頻度僅次于振動(dòng)與高低溫試驗(yàn)。溫度沖擊試驗(yàn)參考標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.22; IEC 60068-2-13；IEC 60068-2-14; EIA-364-32; MIL-STD-202；GJB 150.5等。溫度沖擊試驗(yàn)的目的：1、工程研制階段可用于發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和工藝缺陷；2、產(chǎn)品定型或設(shè)計(jì)和批產(chǎn)階段驗(yàn)收決策提供依據(jù)；3、作為環(huán)境應(yīng)力篩選應(yīng)用時(shí)，目的是剔除產(chǎn)品的早期故障。溫度沖擊試驗(yàn)應(yīng)用領(lǐng)域：道路交通類：道路車輛電子電氣設(shè)備、軌道交通機(jī)車車輛設(shè)備與裝置、汽車零部件等計(jì)算機(jī)類：電腦、顯示屏、主機(jī)、電腦元器件、設(shè)備等精密儀器等電子通信類：手機(jī)、射頻器、電子通信元器件等，PCB、PCBA。電器類：家電、燈具、變電器等各類家電電器設(shè)備、儀器儀表、器械；其他：包裝箱、運(yùn)輸設(shè)備等。設(shè)備型號(hào)：CJ602S3 Ⅰ試驗(yàn)溫度范圍：-75℃～200℃高溫設(shè)定范圍：+60℃～+200℃低溫設(shè)定范圍：0℃～-75℃溫變速率：≤5Min