高低溫測(cè)試主要針對(duì)的范圍包括電工、電子產(chǎn)品,以及其原器件,及其它材料,測(cè)試的嚴(yán)格程度取決于高低溫呢的溫度和持續(xù)測(cè)試時(shí)間。高低溫溫可能使產(chǎn)品過(guò)熱,影響使用安全可靠性。高溫可能使產(chǎn)品過(guò)熱,影響使用安全可靠性，甚至損壞。如：1、使絕緣或密封用灌漿膠熔化流失，潤(rùn)滑脂熔化流失，從而引起損塔2、使材料性能發(fā)生變化3、彈性元件的彈性或機(jī)械性能強(qiáng)度降低,縮短產(chǎn)品使用壽命4、加速高分子材料和絕緣材料劣化和老化過(guò)程,縮短產(chǎn)品使用壽命。（低溫運(yùn)行、低溫貯存）試驗(yàn)的目的是檢驗(yàn)試件能否在長(zhǎng)期的低溫環(huán)境中儲(chǔ)藏、操縱控制，是確定軍民用設(shè)備在低溫條件下儲(chǔ)存和工作的適應(yīng)性及耐久性。低溫下材料物理化學(xué)性能。標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)于試驗(yàn)前處理、試驗(yàn)初始檢測(cè)、樣品安裝、中間檢測(cè)、試驗(yàn)后處理、升溫速度、溫度柜負(fù)載條件、被測(cè)物與溫度柜體積比等均有規(guī)范要求。主要用于科研研究、醫(yī)遼用品的保存、生物制品、遠(yuǎn)洋制品、電子元件、化工材料等材料的低溫實(shí)驗(yàn)及儲(chǔ)存。低溫對(duì)機(jī)械、電工、電子產(chǎn)品影響是多方面的，并因產(chǎn)品拄能、程度輔結(jié)構(gòu)的特點(diǎn)而異，如：1、使電解液凍結(jié)t導(dǎo)致電解電容器、電池不能正常使用2、潤(rùn)滑油粘度增加,甚至冷凝凍結(jié),影響產(chǎn)品起動(dòng)性能3、影響電子產(chǎn)品正常啟動(dòng),儀表誤差4、使材料變脆,如塑料、鋼鐵在低溫下容易發(fā)生脆裂損壞,橡膠材料硬度,彈性下降。低溫測(cè)試的目的是檢驗(yàn)試件能否在長(zhǎng)期的低溫環(huán)境中儲(chǔ)藏、操縱控制，是確定軍民用設(shè)備在低溫條件下儲(chǔ)存和工作的適應(yīng)性及耐久性。低溫下材料物理化學(xué)性能。標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)于試驗(yàn)前處理、試驗(yàn)初始檢測(cè)、樣品安裝、中間檢測(cè)、試驗(yàn)后處理、升溫速度、溫度柜負(fù)載條件、被測(cè)物與溫度柜體積比等均有規(guī)范要求。低溫條件下試件的失效模式：產(chǎn)品所使用零件、材料在低溫時(shí)可能發(fā)生龜裂、脆化、可動(dòng)部卡死、特性改變等現(xiàn)象。TTS實(shí)驗(yàn)室提供兩種不同尺寸的小型振動(dòng)臺(tái)與大型振動(dòng)臺(tái)（華南地區(qū)大型臺(tái)面），根據(jù)不同類型的產(chǎn)品，為您提供測(cè)試服務(wù)。

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