x熒光鍍層測厚儀產(chǎn)品詳細(xì)資料介紹，x熒光鍍層測厚儀技術(shù)參數(shù)和性能配置請咨詢蘇州實(shí)譜信息科技有限公司提供x熒光鍍層測厚儀產(chǎn)品報(bào)價(jià)和操作說明。XTU是一款設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)緊湊，模塊精密化程度高的光譜分析儀，采用了下照式C型腔體設(shè)計(jì)，是一款一機(jī)多用型光譜儀。應(yīng)用核心EFP算法和微光聚集技術(shù)，既保留了測厚儀檢測微小樣品和凹槽的性能，又可滿足微區(qū)RoHS檢測及成分分析。被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗(yàn)和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。技術(shù)參數(shù)：1.?元素分析范圍：氯（Cl）-?鈾（U）2.?涂鍍層分析范圍：鋰（Li）-?鈾（U）3.?厚度檢出限：0.005μm4.?成分檢出限：1ppm5.?小測量直徑0.05mm（小測量面積0.002mm2）6.?對焦距離：0-90mm隨著科技的不斷發(fā)展和創(chuàng)新，人們對于日常使用物品的外觀和實(shí)用性要求也越來越高，于是裝飾鉻的應(yīng)用領(lǐng)域也是越來越廣，不管是汽車門把手，以及各種零配件，家用的衛(wèi)浴，門把手等等工件上面都可以看到它們的身影。鍍鉻的工藝種類其實(shí)有很多，例如有防護(hù)性的裝飾鉻，耐磨性的鍍硬鉻，鍍?nèi)榘足t，鍍松孔鉻，鍍黑鉻等等。技術(shù)難點(diǎn)：裝飾類鍍鉻行業(yè)的測試難點(diǎn)主要體現(xiàn)在一下幾個方面：1.樣品結(jié)構(gòu)比較復(fù)雜，需要檢測的區(qū)域高低不一。2.樣品表面的裝飾Cr鍍層一般在0.5um以下，Cr在元素周期表中靠前，其X射線熒光能量較弱，加上在異形件測試中，由于測試高度的變化,Cr熒光能量損耗嚴(yán)重，導(dǎo)致測試結(jié)果發(fā)生偏差。3.塑料基材類的鍍層，由于汽車行業(yè)的需求，鍍銅鍍鎳層一般都很厚，底層的銅層由于Ni層較厚，銅層熒光不能穿透出來被接受，導(dǎo)致銅層無法測試。4.而較薄的鍍銅鎳鉻產(chǎn)品，在電鍍時，塑料基體的正面和背面都有電鍍，背面的銅鎳的熒光可以輕易穿透基材塑料，從而被儀器接收，造成測試結(jié)果不能反映產(chǎn)品的真實(shí)鍍層情況。的XTD系列儀器，采用上照式的設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)，加上自動/手動對焦以及變焦功能，輕松應(yīng)對各種復(fù)雜結(jié)構(gòu)的樣品的測試。焦結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)加上EFP軟件的距離補(bǔ)償算法，自動補(bǔ)償因測試距離變長導(dǎo)致的X射線熒光能量的衰減，測試結(jié)果更加準(zhǔn)確。XRF對貴金屬檢測的特優(yōu)勢：標(biāo)準(zhǔn)：產(chǎn)品符合國家相關(guān)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)，并通過質(zhì)監(jiān)局等相關(guān)檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)檢驗(yàn)，并可以提供校準(zhǔn)證書；快速：對樣品無需前處理，一般只需要20～200秒即可判定金、銀、鉑、鈀等含量，方便對飾品做大量抽樣的檢測；：ppm級度，可靠的檢測數(shù)據(jù)；無損：測試前后，樣品無任何形式的變化；直觀：實(shí)時譜圖，可直觀顯示貴金屬和雜質(zhì)元素含量；簡易：操作簡易，無需測試人員，無需嚴(yán)格的測試條件；安全：三重保護(hù)裝置，確保安全無誤；經(jīng)濟(jì)：測試過程基本不需要任何耗材，降低測試與維護(hù)費(fèi)用；可靠：為化學(xué)分析提供測量依據(jù)，減少成本，提率。因貴金屬飾品的裝飾需求，其成品結(jié)構(gòu)形狀復(fù)雜多變，測試區(qū)域小，市面上很多測厚儀根本無法實(shí)現(xiàn)對其檢測。XAU系列X熒光貴金屬檢測儀是、生產(chǎn)的一款，用于檢測貴金屬的儀器，本系列儀器采用高分辨率探測器，可準(zhǔn)確無誤的的分析出黃金，鉑金和K金飾品中金、銀、鉑、鈀、銅、鋅、鎳的含量，測試結(jié)果符合國際標(biāo)準(zhǔn)。由于化學(xué)鎳鍍層成分中含有磷（P）等X射線無法檢出的輕金屬元素，加上在不同應(yīng)用領(lǐng)域中，P的含量高低不一等因素，以往采用的庫倫法，X射線法等測量方法都存在準(zhǔn)確度，可重現(xiàn)性等方面的不足。庫倫法因磷沒有參與電化學(xué)反映，或者即使參與了反映，磷的反應(yīng)與鎳的反應(yīng)過程與結(jié)果相差很大，造成儀器沒有將磷在鍍層中的存在的事實(shí)給與真實(shí)反映，由此造成測量的誤差。傳統(tǒng)的X射線檢測時，由于鍍層成分中的P比例是在不停變化的，通過固定鎳與磷的比例的檢測方法已不能完全反映樣品的真實(shí)情況，造成測量的誤差。XTU不僅能測試化學(xué)鎳的厚度，同時還能計(jì)算出成分中鎳和磷的含量比例，很好的反應(yīng)出產(chǎn)品的真實(shí)情況近一兩年的國際關(guān)系變化，帶給科技行業(yè)明顯的變化就是擔(dān)心被卡脖子。相比于站在風(fēng)口浪尖的半導(dǎo)體行業(yè)，與其密切相關(guān)的電子測試儀器似乎受到的關(guān)注并不多。作為電子產(chǎn)業(yè)不可或缺的支撐保障，電子測試儀器的重要性隨著系統(tǒng)越來越復(fù)雜以及設(shè)計(jì)越來越智能化而不斷提升。以廣受關(guān)注的集成電路產(chǎn)業(yè)為例，用于測試和驗(yàn)證部分的工作已經(jīng)占據(jù)整個芯片研發(fā)近60%的時間和成本。在更廣泛的電子測試領(lǐng)域，以示波器、頻譜儀、信號源、矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀等為代表的通用電子測試儀器幾乎成為所有開發(fā)、測試以及維修工程師的標(biāo)配。

蘇州實(shí)譜信息科技有限公司是一家以X熒光光譜儀為核心,集多種檢測儀器的研發(fā)、生產(chǎn)、銷售于一體的高科技企業(yè)。