毛細(xì)管聚焦微小樣品超薄厚度鍍層分析儀產(chǎn)品詳細(xì)資料介紹，多導(dǎo)毛細(xì)聚焦x射線膜厚測試儀性能配置和技術(shù)參數(shù)請咨詢實譜公司提供多導(dǎo)毛細(xì)聚焦技術(shù)X射線鍍層測厚儀的產(chǎn)品應(yīng)用解決方案，X射線測厚儀被應(yīng)用于電子元器件，LED和照明，家用電器，通訊，汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合*定位決了大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。多導(dǎo)毛細(xì)管技術(shù)，輕松應(yīng)對超小測量點薄涂層和薄涂層的測量分析，在柔性電路板、芯片封裝環(huán)節(jié)、晶圓微區(qū)的鍍層厚度和成分自動測試分析中盡顯優(yōu)勢主要利用X射線全反射原理，從X射線管激發(fā)出來的X射線束在毛細(xì)玻璃管的內(nèi)壁以全反射的方式進(jìn)行傳輸，利用毛細(xì)玻璃管的彎曲來改變X射線的傳輸方向，從而實現(xiàn)X射線匯聚，同時將X射線的強度增加2～3個數(shù)量級X射線激發(fā)由上往下，采用Mo靶，銅管體的光管，大窗口的SDD硅漂移探測器XY軸程控控制，程控移動?焦距可變?高倍放大的高清CCD?開槽式樣品臺多級密碼設(shè)置可給予不同的管理權(quán)限性能優(yōu)勢：微區(qū)分析：定位平臺和毛細(xì)管聚焦光學(xué)結(jié)構(gòu)，聚焦直徑可小至?5μm?FWHM.?測試速度：強度高于金屬準(zhǔn)直1000倍以上的毛細(xì)管光路系統(tǒng)搭配核心算法，分析效率翻倍，將大幅度縮減分析時間。?自動智能：儀器響應(yīng)式自動開合，AI影像智能尋點一次編程即可實現(xiàn)成百上千個樣品點的檢測，實現(xiàn)在線檢測。X射線熒光是原子內(nèi)產(chǎn)生變化所致的現(xiàn)象。-個穩(wěn)定的原子結(jié)構(gòu)由原子核及核外電子組成。其核外電子都以各自特有的能量在各自的固定軌道上運行，內(nèi)層電子(如K層)在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛,釋放出來,電子的逐放會導(dǎo)致該電子殼層出現(xiàn)相應(yīng)的電子空位。這時處于高能量電子殼層的電子(如:L層)會躍遷到該低能量電子殼層來填補相應(yīng)的電子空位。由于不同電子殼層之間存在著能量差距,這些能量上的差以二次X射線的形式釋放出來,不同的元素所釋放出來的二次X射線具有特定的能量特性。這一個過程就是我們所說的X射線熒光(XRF)。元素的原子受到高能激發(fā)而引起內(nèi)層電子的躍遷，同時發(fā)射出具有-定特殊性波長的X射線,根據(jù)莫斯萊定律,熒光X射線的波長λ與元素的原子序數(shù)Z有關(guān),其數(shù)學(xué)關(guān)系如下:λ=K(Z-?S)-2毛細(xì)管鍍層分析產(chǎn)品特點：1、多導(dǎo)毛細(xì)光學(xué)系統(tǒng)和高性能SDD探測器：區(qū)別金屬準(zhǔn)直，多導(dǎo)毛細(xì)管可將光束縮小至10?μm，同時得到數(shù)千倍的強度增益。可測量超微小樣品的同時大程度保證了測試的準(zhǔn)確性及穩(wěn)定性。2、微米級超小區(qū)域：在Elite-X光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計下大大降低檢出限，納米級超薄鍍層均可準(zhǔn)確、可靠測試3、廣角相機：樣品整體形貌一覽無余，且測試位置一鍵直達(dá)4、搭配高分辨微區(qū)相機：千倍放大*對焦測試區(qū)域，搭配XY微米級移動平臺，三維方向?qū)咕劢箿y試點位，誤差<±2?μm5、多重保護系統(tǒng)：V型激光保護，360°探入保護，保護您的樣品不受損害，保證儀器安全可靠的運作6、全自動移動平臺：可編程化的操作，針對同一類型樣品，編程測試點位，同一類樣品自動尋路直接測試7、人性化的軟件：搭配EFP核心算法軟件，人機交互，智慧操作8、可搭配全自動進(jìn)送樣系統(tǒng)

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