毛細(xì)管聚焦微小樣品超薄厚度鍍層分析儀產(chǎn)品詳細(xì)資料介紹，多導(dǎo)毛細(xì)聚焦x射線膜厚測(cè)試儀性能配置和技術(shù)參數(shù)請(qǐng)咨詢(xún)實(shí)譜公司提供多導(dǎo)毛細(xì)聚焦技術(shù)X射線鍍層測(cè)厚儀的產(chǎn)品應(yīng)用解決方案，X射線測(cè)厚儀被應(yīng)用于電子元器件，LED和照明，家用電器，通訊，汽車(chē)電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合*定位決了大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。X射線熒光是原子內(nèi)產(chǎn)生變化所致的現(xiàn)象。-個(gè)穩(wěn)定的原子結(jié)構(gòu)由原子核及核外電子組成。其核外電子都以各自特有的能量在各自的固定軌道上運(yùn)行，內(nèi)層電子(如K層)在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛,釋放出來(lái),電子的逐放會(huì)導(dǎo)致該電子殼層出現(xiàn)相應(yīng)的電子空位。這時(shí)處于高能量電子殼層的電子(如:L層)會(huì)躍遷到該低能量電子殼層來(lái)填補(bǔ)相應(yīng)的電子空位。由于不同電子殼層之間存在著能量差距,這些能量上的差以二次X射線的形式釋放出來(lái),不同的元素所釋放出來(lái)的二次X射線具有特定的能量特性。這一個(gè)過(guò)程就是我們所說(shuō)的X射線熒光(XRF)。元素的原子受到高能激發(fā)而引起內(nèi)層電子的躍遷，同時(shí)發(fā)射出具有-定特殊性波長(zhǎng)的X射線,根據(jù)莫斯萊定律,熒光X射線的波長(zhǎng)λ與元素的原子序數(shù)Z有關(guān),其數(shù)學(xué)關(guān)系如下:λ=K(Z-?S)-2性能優(yōu)勢(shì)：微區(qū)分析：定位平臺(tái)和毛細(xì)管聚焦光學(xué)結(jié)構(gòu)，聚焦直徑可小至?5μm?FWHM.?測(cè)試速度：強(qiáng)度高于金屬準(zhǔn)直1000倍以上的毛細(xì)管光路系統(tǒng)搭配核心算法，分析效率翻倍，將大幅度縮減分析時(shí)間。?自動(dòng)智能：儀器響應(yīng)式自動(dòng)開(kāi)合，AI影像智能尋點(diǎn)一次編程即可實(shí)現(xiàn)成百上千個(gè)樣品點(diǎn)的檢測(cè)，實(shí)現(xiàn)在線檢測(cè)。在高集成光路系統(tǒng)的基礎(chǔ)上，搭配多導(dǎo)毛細(xì)管?實(shí)現(xiàn)小面積或薄鍍層的高速、、穩(wěn)定的測(cè)量，聚焦直徑可小至10μm，可產(chǎn)生比準(zhǔn)直器機(jī)構(gòu)強(qiáng)千倍的信號(hào)強(qiáng)度多導(dǎo)毛細(xì)管將激發(fā)光束高強(qiáng)度的集中在一個(gè)的小光斑上，從而顯著縮短測(cè)量時(shí)間，?在測(cè)量納米級(jí)Au厚度或薄膜層厚度及成分時(shí)，滿足微小光斑、短測(cè)量時(shí)間的同時(shí)，測(cè)量效果接近測(cè)量精度更高：新開(kāi)發(fā)的特的光學(xué)器件和多導(dǎo)毛細(xì)管技術(shù)可對(duì)超微小區(qū)域及納米級(jí)薄層高精度測(cè)量超微小樣品檢測(cè)：測(cè)試小測(cè)量點(diǎn)直徑可達(dá)10μm測(cè)量效率高：高靈敏度、高解析度X熒光檢測(cè)系統(tǒng)搭配多導(dǎo)毛細(xì)管技術(shù)，測(cè)量時(shí)間更短，能夠?qū)崿F(xiàn)普通機(jī)型幾倍的檢測(cè)量毛細(xì)管鍍層分析產(chǎn)品特點(diǎn)：1、多導(dǎo)毛細(xì)光學(xué)系統(tǒng)和高性能SDD探測(cè)器：區(qū)別金屬準(zhǔn)直，多導(dǎo)毛細(xì)管可將光束縮小至10?μm，同時(shí)得到數(shù)千倍的強(qiáng)度增益?？蓽y(cè)量超微小樣品的同時(shí)大程度保證了測(cè)試的準(zhǔn)確性及穩(wěn)定性。2、微米級(jí)超小區(qū)域：在Elite-X光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)下大大降低檢出限，納米級(jí)超薄鍍層均可準(zhǔn)確、可靠測(cè)試3、廣角相機(jī)：樣品整體形貌一覽無(wú)余，且測(cè)試位置一鍵直達(dá)4、搭配高分辨微區(qū)相機(jī)：千倍放大*對(duì)焦測(cè)試區(qū)域，搭配XY微米級(jí)移動(dòng)平臺(tái)，三維方向?qū)咕劢箿y(cè)試點(diǎn)位，誤差<±2?μm5、多重保護(hù)系統(tǒng)：V型激光保護(hù)，360°探入保護(hù)，保護(hù)您的樣品不受損害，保證儀器安全可靠的運(yùn)作6、全自動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)：可編程化的操作，針對(duì)同一類(lèi)型樣品，編程測(cè)試點(diǎn)位，同一類(lèi)樣品自動(dòng)尋路直接測(cè)試7、人性化的軟件：搭配EFP核心算法軟件，人機(jī)交互，智慧操作8、可搭配全自動(dòng)進(jìn)送樣系統(tǒng)

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