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    火花光電直讀光譜儀 使用靈活 采樣方式靈活

  • 作者:鋼研納克江蘇檢測技術(shù)研究院有限公司 2023-08-17 23:35 180
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    火花直讀光譜儀是一種爐前元素快速分析儀器,其光源為低壓直流快速火花光源。儀器整機結(jié)構(gòu)、分光系統(tǒng)、電器系統(tǒng)、分析軟件及電磁兼容性等方面,都充分考慮到用戶現(xiàn)場的需求,經(jīng)不斷研究、實驗、優(yōu)化而來,使RG-N75性能指標能滿足用戶現(xiàn)場長期使用的要求。


    直讀光譜儀可以把它分成三類,PMT(PMT即我們俗稱的光電倍增管)與CCD(CCD即電荷耦合元件)和CMOS,但是目前市場中,其實CCD直讀光譜儀較多,新出現(xiàn)的CMOS(CMOS則是互補金屬氧化物半導體)技術(shù),雖然便宜,但是技術(shù)還沒有CCD技術(shù)的成熟。

                                                                                      PMT直讀光譜儀的精度

    PMT在技術(shù)上,是可達到精度的直讀光譜儀,只是因為它的價格高昂,以及增加檢測元素困難,并且市場中需要達到如此精度的工作不多,市場占有率不及CCD,普通的元素分析CCD完全夠用了。那么PMT技術(shù)精度可以達到多少呢?我們常用PPM來表示精度,而PMT直讀光譜儀的精度是可以達到1ppm或者0.1ppm的,什么,你沒看懂?1ppm就是10的-6次方,也就是一百萬分之一,或者一千萬分之一的元素含量,它能夠檢測出0.0001%或者0.00001%的元素含量,這個精度是不是老高了。一半在純金屬分析以及個別的用合金產(chǎn)品時會使用到。

    國內(nèi)的PMT直讀光譜儀不一定能夠達到這個精度,與國外的技術(shù)相比還有一些差距。國內(nèi)PMT技術(shù)的直讀光譜儀并不多,僅是直讀光譜儀的市場,價格和科研費用也高昂,所以大多數(shù)企業(yè)把目光放在CMOS直讀光譜儀上。

    CCD直讀光譜儀的精度

    CCD直讀光譜儀比PMT更加的便宜,并且在近兩年,市場價已經(jīng)降下來,現(xiàn)在十幾萬就可以買一臺之前幾十萬都買不到的直讀光譜儀,直讀光譜儀的精度小于100ppm,也就是達到小數(shù)點后三位,0.0001,檢測的元素0.01%或以上可以檢測出元素含量,可以檢測精度為萬分之一。但隨著技術(shù)的發(fā)展,目前有些CCD直讀光譜儀精度已經(jīng)能夠達到0.001%,小數(shù)點后5位,即10ppm級別,但緊緊是極少數(shù)。

    有很多原因造成精度的問題,光電倍增管光譜儀內(nèi)部有恒溫裝置,儀器對環(huán)境要求較低,儀器較小,受溫度影響較大,CCD光譜儀為了提高性能需要外加制冷降低噪聲,但國內(nèi)光譜儀通常出于成本考慮,減配制冷系統(tǒng),這僅僅是一點。

    CCD儀器具有外形小,譜線范圍廣,適合材料分類或分析精度要求不高,且材料種類多樣的企業(yè)使用。

    CMOS直讀光譜儀的精度

    就配件來說,CMOS比CCD更加便宜,CCD配件僅掌握在幾家企業(yè)手里,能夠生產(chǎn),所以相對來說,CMOS元器件成本比之要低,但這也是有缺陷的,作為感光元件,不僅僅是直讀光譜儀市場使用它們,還有相機也會使用這些元件。

    但目前,相機還是采用CCD傳感器,而CMOS傳感器則成功的占據(jù)了相機低端市場,使得相機價格從幾萬幾十萬降至幾萬甚至幾千。如果CMOS能夠精度更加高,占領(lǐng)未來的市場是必然的,但目前CMOS的固有劣勢無法解決。

    就目前市場情況,銷售CCD直讀光譜儀的廠家更多,CMOS直讀光譜儀生產(chǎn)的廠家比較少。CMOS直讀光譜儀的精度,因為缺少資料,很多廠家的產(chǎn)品中也沒有明確標出,所以無法得出比較中肯的評價。

    以上就是各種直讀光譜儀具體可以達到的精度



    所有直讀光譜儀都可以達到ppm級的精度嗎?

    直讀的檢測線是小于100ppm,也就是達到小數(shù)點后三位,0.001,檢測的元素0.01%或以上可以檢測出元素含量,可以檢測精度為萬分之一。并不是所有直讀光譜儀的檢測限都是一樣的,不同廠家不同機型所達到的精度不同。

    光譜分析是根據(jù)物質(zhì)的光譜來鑒別物質(zhì),確定它的化學組成和相對含量,是一種靈敏快速的分析方法。生產(chǎn)過程的各個環(huán)節(jié)中,為了把控質(zhì)量,保證成品符合出廠和驗收要求,都離不開實時的化學成分檢測。

    直讀光譜儀原理

    直讀光譜儀原理是樣品經(jīng)過電弧或火花,每種元素發(fā)射光譜譜線強度正比于樣品中該元素含量,通過檢測發(fā)射光譜強度的能量大小來分析各元素的含量。

    原子發(fā)射光譜分析所采用的原理是用電?。ɑ蚧鸹ǎ┑母邷厥箻悠分懈髟貜墓虘B(tài)直接汽化放電激發(fā)成原子蒸汽,當物質(zhì)受到外界能量(電能和熱能)的作用時,核外電子就躍遷到高能級,處于高能態(tài)(激發(fā)態(tài))電子是不穩(wěn)定的,激發(fā)態(tài)原子可存在的時間約為10-8秒,它從高能態(tài)躍遷到基態(tài),或較低能態(tài)時,把多余的能量以光的形式釋放出來。激發(fā)而發(fā)射出各元素的特征波長,因為每一種元素的基態(tài)是不相同的,激發(fā)態(tài)也是不一樣的,所以發(fā)射的光子是不一致的,也就是波長不相同的。

    依據(jù)波長可以決定是哪一種元素,這就是光譜的定性分析。另一方面譜線的強度是由發(fā)射該譜線的光子數(shù)目來決定的,光子數(shù)目多則強度大,反之則弱,而光子的數(shù)目又和處于基態(tài)的。

    用光柵分光后,成為按波長排列的“光譜”,這些元素的特征光譜線通過出射狹縫,射入各自的感光器件,光信號變成電信號,經(jīng)儀器的控制測量系統(tǒng)將電信號積分并進行模數(shù)轉(zhuǎn)換,然后由計算機處理,并打印各元素的百分含量。

    光電直讀光譜儀雖然本身測量準確度很高,但測定試樣中元素含量時,所得結(jié)果與真實含量通常不一致,存在一定誤差,并且受諸多因素影響,有的材料本身含量就很低。有下面幾種情況,在檢測時可能產(chǎn)生誤差。

    ,標樣對光譜儀結(jié)果精度的影響,標樣和試樣的含量和化學組成不完全相同時,可能引起基體線和分析線的強度改變。

    第二,標樣與試樣的物理性能不完全相同時,激發(fā)特征譜線會有差別從而產(chǎn)生系統(tǒng)誤差。

    第三,澆注的鋼樣經(jīng)過退火,淬火,回火,熱軋,鍛壓狀態(tài)的鋼樣金屬組織結(jié)構(gòu)不相同時,測出的數(shù)據(jù)會有差別。

    第四,熔煉過程中加入脫氧劑,去硫磷劑,混入未知合金元素,引起未知元素譜線的重疊干擾。

    第五,樣品的元素分布不均勻,導致分析結(jié)果不同。

    以上幾點是直讀光譜儀精度產(chǎn)生誤差的原因,若能避免,光譜儀的使用會更加方便。



    雖然目前CCD還有一些不足之處,但是大家認為CCD在光電直讀光譜儀中的應(yīng)用是值得期待的。PMT到現(xiàn)在已經(jīng)發(fā)展60多年了,是一種經(jīng)典成熟的技術(shù)。而CCD技術(shù)正處于飛速的發(fā)展變化之中,可以預(yù)期CMOS(互補金屬氧化物半導體)技術(shù)很快會應(yīng)用于CCD當中,這些技術(shù)的不斷發(fā)展會促使CCD發(fā)展到更高的水平。近些年CCD器件發(fā)展已經(jīng)相當成熟,能夠滿足一般的分析要求,針對細分市場,各種用途的CCD不斷產(chǎn)生。CCD與PMT結(jié)合是目前解決全譜檢測并滿足微量和痕量分析的優(yōu)選擇,但同時滿足兩種類型檢測器的采樣控制和系統(tǒng)的結(jié)合目前仍然是該類儀器的制造難點。

           所以說,CCD和PMT的存在,在目前為止都是合理且必要,而的COMS技術(shù)也在進入市場。對于客戶來說,就是合理的選擇一款自己合適的儀器,不要人云亦云。

           鋼研納克目前的儀器基本是以CCD技術(shù)為主,COMS技術(shù)也基本成熟,并推出上市。



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