德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀特點：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；
所有型號均可配所有探頭；
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機；
可使用一片或二片標準箔校準。   

MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測厚儀功能 
型號 1100 2100 3100 4100 
MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量  
應用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數(shù)據(jù)數(shù)) 1 1 10 99 
每個應用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計，可設寬容度極限值) - 1 10 99 
可用各自的日期和時間標識特性的組數(shù) - 1 500 500 
數(shù)據(jù)總量 1 10000 10000 10000 
MINITEST統(tǒng)計計算功能  
讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar - √ √ √ 
讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk - - √ √ 
組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar - - √ √ 
組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk - - √ √ 
存儲顯示每一個應用行下的所有組內數(shù)據(jù) - - - √ 
分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值 - - √ √ 
顯示并打印測量值、打印的日期和時間 - √ √ √ 
其他功能  
透過涂層進行校準(CTC) - √ √ √ 
在粗糙表面上作平均零校準 √ √ √ √ 
利用計算機進行基礎校準 √ √ √ √ 
補償一個常數(shù)(Offset) - - √ √ 
外設的讀值傳輸存儲功能 - √ √ √ 
保護并鎖定校準設置 √ √ √ √ 
更換電池是存儲數(shù)值 √ √ √ √ 
設置極限值 - - √ √ 
公英制轉換 √ √ √ √ 
連續(xù)測量模式**測量，通過模擬柱識別較大較小值 - - √ √ 
連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù) - - √ √ 
浮點和**方式數(shù)據(jù)傳送 √ √ √ √ 
組內單值延遲顯示 - √ √ √ 
連續(xù)測量模式中顯示較小值 √ √ √ √ 

可選探頭參數(shù)(探頭圖示)
所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇較適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層 
FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能
探頭 量程 低端
分辨率 誤差 較小曲率
半徑(凸/凹) 較小測量
區(qū)域直徑 較小基
體厚度 探頭尺寸 
磁
感
應
法 F05 0-500μm 0.1μm ±(1%±0.7μm) 1/5mm 3mm 0.2mm φ15x62mm 
F1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62mm 
F1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 平面/6mm 5mm 0.5mm φ8x170mm 
F3 0-3000μm 0.2μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62mm 
F10 0-10mm 5μm ±(1%±10μm) 5/16mm 20mm 1mm φ25x46mm 
F20 0-20mm 10μm ±(1%±10μm) 10/30mm 40mm 2mm φ40x66mm 
F50 0-50mm 10μm ±(3%±50μm) 50/200mm 300mm 2mm φ45x70mm 
兩
用
 FN1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm F0.5mm
**0μm φ15x62mm 
FN1.6P 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 平面 30mm F0.5mm
**0μm φ21x89mm 
FN2 0-2000μm 0.2μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm F0.5mm
**0μm φ15x62mm 
電
渦
流
法 N02 0-200μm 0.1μm ±(1%±0.5μm) 1/10mm 2mm 50μm φ16x70mm 
N.08Cr 0-80μm 0.1μm ±(1%±1μm) 2.5mm 2mm 100μm φ15x62mm 
N1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 2mm 50μm φ15x62mm 
N1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 平面/10mm 5mm 50μm φ13x170mm 
N10 0-10mm 10μm ±(1%±25μm) 25/100mm 50mm 50μm φ60x50mm 
N20 0-20mm 10μm ±(1%±50μm) 25/100mm 70mm 50μm φ65x75mm 
N100 0-100mm 100μm ±(1%±0.3mm) 100mm/平面 200mm 50μm φ126x155mm 
CN02 10-200μm 0.2μm ±(1%±1μm) 平面 7mm 無限制 φ17x80mm 
注： F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內測量。
N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。  

探頭圖示
 FN1.6
0～1600μm,φ5mm
兩用測頭，可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)

 
 FN1.6P
0～1600μm,φ30mm
兩用測頭， 特別適合測粉末狀的覆層厚度


 
 F05
0～500μm,φ3mm
磁性測頭，適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等
量程低端分辨宰很高(0.1μm)

 
 F1.6
0～1600μm,φ5mm
磁性測頭
量程低端分辨率很高(0.1μm)

 
 F3
0～3000μm,φ5mm
磁性測頭
可用于較厚的覆層

 
 F1.6/90
0～1600μm,φ5mm
90度磁性測頭
尤其適合于在管內壁測量
量程低端分辨率很高(0.1μm)

 
 F10
0～10mm,φ20mm
適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等


 
 F20
0～20mm,φ40mm
適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等 

 
 F50
0～50mm,φ300mm
適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層

 
 N02
0～200μm,φ2mm
非磁性測頭，尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)

 
 N0.8Cr
0～80μm,φ2mm
適用于測量銅、鋁、黃銅上的較薄鍍鉻層

 
 N1.6
0～1600μm,φ2mm
非磁性測頭，適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)

 
 N1.6/90
0～1600μm,φ5mm
磁性測頭，適于測量較薄的絕緣覆層
尤其適合在管內壁測量
量程低端分辨率很高(0.1μm)

 
 N10
0～10mm,φ50mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等

 
 N20
0～20mm,φ70mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等

 
 N100
0～100mm,200mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
 
 CN02
10～200μm,φ7mm
用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板

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