**：佰力博
型號：四探針聚合物電阻率測量系統(tǒng) HRMS-800

簡單介紹：為了較方便的研究高溫條件下半導(dǎo)體或絕緣材料的導(dǎo)電性能，佰力博科技已經(jīng)研發(fā)出HRMS-800G高溫四探針測量系統(tǒng)，該系統(tǒng)可以測量硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導(dǎo)電玻璃（ITO）和其它導(dǎo)電薄膜的方塊電阻,該設(shè)備按照單晶硅物理測試方法地區(qū)標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，**于變溫、真空及氣氛條件下測試半導(dǎo)體材料電學(xué)性能的較佳測量系統(tǒng)。

關(guān)鍵詞：四探針測量儀，高溫四探針測量儀，低溫四探針測量儀，變溫四探針測量儀，高低溫四探針測量儀，四探針電阻率測量儀，四探針法電阻率測量儀，四探針方塊電阻率測量儀，四探針導(dǎo)體電阻率測量儀，四探針半導(dǎo)體電阻率測量儀，四探針絕緣電阻率測量儀，四探針聚合物電阻率測量儀，四探針測試儀，高溫四探針測試儀，低溫四探針測試儀，變溫四探針測試儀，高低溫四探針測試儀，四探針電阻率測試儀，四探針方塊電阻率測試儀，四探針法電阻率測試儀，四探針導(dǎo)體電阻率測試儀，四探針半導(dǎo)體電阻率測試儀，四探針絕緣電阻率測試儀，四探針晶體電阻率測試儀，四探針薄膜電阻率測試儀，四探針聚合物電阻率測量儀，四探針測量系統(tǒng)，四探針測量裝置

產(chǎn)品特點(diǎn)：可以實(shí)現(xiàn)高溫、真空、氣氛等條件下測量薄膜方塊電阻； 可以實(shí)現(xiàn)常溫，變溫，恒溫條件的 I-V、R-T、R-t等測量功能；可以通過輸入樣品的面積和厚度，軟件自動(dòng)計(jì)算樣品的電阻率ρv；可以分析電阻率ρv與溫度T的變化的曲線；可以與Keithley 2400或2600數(shù)字多用表配套。

相關(guān)產(chǎn)品：LNP-95低溫液氮傳輸泵、HRMS-800高溫四探針測量系統(tǒng)、HRMS-900絕緣電阻測量系統(tǒng)、VDMS-2000H高溫介電測量系統(tǒng)、VDMS-2000HL高低變溫介電測量系統(tǒng)、MRVS 多工位可旋轉(zhuǎn)試管真空密封系統(tǒng)

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