大理石平臺(tái)是用于工件檢測(cè)、測(cè)量、劃線的平面基準(zhǔn)器具，在平臺(tái)上可以完成許多復(fù)雜的空間幾何測(cè)量，具有快速、準(zhǔn)確、簡(jiǎn)便、經(jīng)濟(jì)的優(yōu)點(diǎn)。
 　　大理石平臺(tái)外觀：
 　　1、 制造廠廠名或注冊(cè)商標(biāo)；
 　　2、產(chǎn)品名稱；
 　　3、規(guī)格和精度等級(jí)；
 　　4、產(chǎn)品編號(hào)和制造日期；
 　　5、執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)號(hào)；
 　　6 、大理石平臺(tái)合格證書;合格證書上應(yīng)標(biāo)有產(chǎn)品合格編號(hào)；
 　　7、大理石平臺(tái)應(yīng)有三個(gè)主支承點(diǎn)，支承點(diǎn)位置符合最小變形原則，一般取在平臺(tái)邊長(zhǎng)的2/9處，尺寸大于1000*1000mm的平臺(tái)應(yīng)具備輔助支承點(diǎn)。
 　　大理石平臺(tái)表面質(zhì)量要求：
 　　1、平臺(tái)工作面應(yīng)色澤均勻，不得有裂紋、凹坑及組織疏松、磨痕、劃傷及影響平臺(tái)準(zhǔn)確度的其他缺陷；
 　　2、首次檢定的平臺(tái)工作面出現(xiàn)的凹陷或掉角不應(yīng)進(jìn)行修補(bǔ)。后續(xù)檢定的大理石平臺(tái)工作面上允許有不影響使用性能的上述缺陷；
 　　3、平臺(tái)工作面的表面粗糙度Ra的最大允許值為0.32-0.63微米，側(cè)面為10微米；
 　　4、000級(jí)和00級(jí)平臺(tái)建議不設(shè)置搬運(yùn)手柄；
 　　5、若0級(jí)和1級(jí)平臺(tái)工作面上設(shè)置螺紋孔(溝槽)，其部分應(yīng)不高于工作面。
 　　注：檢定方法采用目力觀察和試驗(yàn)。
 　　參考標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 20428-2006 巖石平板國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。