ThickLab-900 X熒光測厚儀采用X熒光分析技術(shù)，可以測定各種金屬鍍層的厚度，包括單層、雙層、多層及合金鍍層等，它也可以進行電鍍液的成分濃度測定。它能檢測出常見金屬鍍層厚度，無需樣品預處理；分析時間短，僅為數(shù)十秒；即可分析出各金屬鍍層的厚度，分析測量動態(tài)范圍寬，可從0.01μM到60μM。它是一種能譜分析方法，屬于物理分析方法。當鍍層樣品在受到X射線照射時，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會發(fā)射出各自的特征X射線，探測器探測到這些特征X射線后，將其光信號轉(zhuǎn)變?yōu)槟M電信號；經(jīng)過模擬數(shù)字變換器將模擬電信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號并送入計算機進行處理；計算機獨有的特殊應用軟件根據(jù)獲取的譜峰信息，通過數(shù)據(jù)處理測定出被測鍍層樣品中所含元素的種類及各元素的鍍層厚度。 
   我公司集中了國內(nèi)最優(yōu)秀的X熒光分析﹑電子技術(shù)等行業(yè)技術(shù)研究開發(fā)專家及生產(chǎn)技術(shù)人員，依靠多年的先進科學研究，總結(jié)多年的現(xiàn)場應用實踐經(jīng)驗，結(jié)合中國的特色，開發(fā)生產(chǎn)出的ThickLab-900 型X熒光測厚儀具有快速、準確、簡便、實用等優(yōu)點。 
   ThickLab-900作為我公司最新研制的X熒光測厚儀，廣泛用于用于鍍層厚度的測量、電鍍液厚度的測量。  
1. 儀器特點： 
Ø  同時分析元素周期表中由鈦（Ti）以上元素的鍍層厚度； 
Ø  可以分析單層、雙層、三層等金屬及合金鍍層的厚度； 
Ø  無需復雜的樣品預處理過程；分析測量動態(tài)范圍寬，可從0.01μM到60μM ； 
Ø  采用先進的探測器技術(shù)及先進的信號處理線路，處理速度快，精度高，穩(wěn)定可靠； 
Ø  采用正高壓激發(fā)的微聚焦的X光管，激發(fā)與測試條件采用計算機軟件數(shù)碼控制與顯示； 
Ø  采用彩色攝像頭，準確觀察樣品并可拍照保存樣品圖像； 
Ø  采用電動無極控制樣品平臺，可以進行X-Y-Z的移動，準確方便； 
Ø  采用雙激光對焦系統(tǒng)，準確定位測量位置； 
Ø  精確度高，穩(wěn)定性好，故障率低； 
Ø  采用多層屏蔽保護，輻射安全性可靠； 
Ø  WINDOWS XP 中文應用軟件，獨特先進的分析方法，完備強大的功能，操作簡單，使用方便,  分析結(jié)果存入標準ACCESS數(shù)據(jù)庫；  
2、儀器的技術(shù)特性 
2.1 X-Y-Z樣品平臺移動裝置 
ThickLab-900 X熒光測厚儀的X-Y-Z樣品平臺移動裝置具有可容納各種形態(tài)被測樣品的樣品室。 
樣品種類：各種形狀的鍍層樣品，及電鍍液體樣品。 
平臺移動：X-Y-Z移動采用電動方式，實用方便。 
2.2 X射線管激發(fā)系統(tǒng) 
激發(fā)系統(tǒng)采用獨特的正置直角光學結(jié)構(gòu)設計。以低功率正高壓微聚焦的X射線發(fā)生器作為激發(fā)源，從X射線管產(chǎn)生的初級X射線通過準直器后直接激發(fā)樣品，通過選擇激發(fā)條件更能獲得最佳的分析結(jié)果。由高電壓發(fā)生器，X射線發(fā)生器及數(shù)碼控制顯示系統(tǒng)等電子線路部分構(gòu)成。
高電壓發(fā)生器：電壓與電流采用軟件自動數(shù)碼控制及顯示。 
X射線穩(wěn)定度：0.3%/8小時。 
電壓范圍：0V至50kV連續(xù)可調(diào)。 
電流范圍：0mA至1mA連續(xù)可調(diào)。 
X射線發(fā)生器：采用韌致輻射型﹑低功率﹑自然冷卻﹑高壽命的X光管，并根據(jù)實際應用需要選擇靶材。供選擇的靶材為：Ag（銀靶）、W（鎢靶）、Mo（鉬靶）、Rh（銠靶）等。
準直器：采用合適大小的準直器，可以提高特定鍍層厚度的分析靈敏度，本系統(tǒng)可以選擇0.1mm、0.2mm、0.4mm不同的準直器。 
2.3 高分辨率的探測器系統(tǒng) 
高分辨率高計數(shù)率探測器：對55Fe 5.9keV的X射線在計數(shù)率為1000CPS時的分辨率為15%。 
2.4 能譜儀電子學系統(tǒng) 
前置放大器及放大器等信號處理器：適應高計數(shù)率，高抗干擾能力的一體化電子線路，模數(shù)轉(zhuǎn)換器采用高精度的2048道。
2.5計算機分析系統(tǒng) 
高級名牌商用機，2GRAM,250G硬盤； 
19寸高分辨率彩色液晶顯示器； 
HP高級激光打印機。 
2.6 系統(tǒng)軟件 
操作：WINDOWS XP操作系統(tǒng)軟件，功能強大，使用方便。 
功能：能譜顯示，分析元素設置，能量刻度，X光高壓、電流自動控制，系統(tǒng)參數(shù)標定，與其它計算機通訊，標準數(shù)據(jù)庫結(jié)果存放； 
分析方法：單層、雙層、多層、合金鍍層曲線擬合，厚度校正。
儀器的漂移自動修正：保證儀器的分析結(jié)果長期穩(wěn)定。 
2.7電源   
220V 50HZ 交流電。 
2.8 儀器尺寸、重量 
主機外形尺寸：540*630*400 mm （W*D*H） 
主機重量：50千克。   
三、應用領(lǐng)域: 
1.塑料工業(yè)鍍層 
可以測量各種塑料制品等。 
2.電子材料鍍層
金屬接插件、半導體、線路板、電容器等 
3.鋼鐵材料鍍層
生鐵、鑄鐵、不銹鋼、低合金、表面處理鋼板等  
4.有色金屬材料鍍層
銅合金、鋁合金、鉛合金、鋅合金、鎂合金、鈦合金、貴金屬等
5.其它各種鍍層厚度的測量及成分分析。  
四、應用實例 
1.銅上鍍金單鍍層厚度測量鐵、銅等材料上鍍金的金厚度測量是工業(yè)中常見的，利用ThickLab-900型X熒光測厚儀可以獲得比較好的結(jié)果。 
測量條件：20kv/100uA，50秒，無濾光片。 
鍍層標準厚度（µm）
0.12
0.45
1.35
2.55
4.12
5.23
7.65
鍍層熒光厚度（µm）
0.11
0.48
1.37
2.47
4.06
5.35
7.58
 2.銅上鍍鎳再鍍金的雙鍍層厚度測量鐵、銅等材料上先鍍鎳再鍍金的厚度測量也是工業(yè)中常見的，利用ThickLab-900型X熒光測厚儀可以獲得比較好的結(jié)果。 
測量條件： 20kv/100uA,50秒，無濾光片。 
鎳鍍層標準厚度（µm）
0.15
0.85
1.30
2.15
4.56
8.13
9.55
鎳鍍層熒光厚度（µm）
0.13
0.88
1.33
2.20
4.60
8.25
9.48
金鍍層標準厚度（µm）
0.23
0.45
0.75
1.15
1.22
1.53
1.65
金鍍層熒光厚度（µm）
0.21
0.43
0.77
1.17
1.26
1.55
1.58
 

加工定制 是 類型 激光測厚儀 品牌 馨標 型號 XB-23 測量范圍 0-0.4（mm） 顯示方式 液晶 電源電壓 220（V） 外形尺寸 --（mm） 產(chǎn)品別名 x射線測厚儀

上海馨標檢測儀器制造有限公司是一家生產(chǎn)銷售企業(yè)．專業(yè)生產(chǎn)金屬鍍層厚度的電解式測厚儀和材料試驗機兩大類產(chǎn)品，質(zhì)量可靠，信譽至上，服務及時，受到用戶的廣泛歡迎。 經(jīng)過公司全體員工不懈努力，目前產(chǎn)品已遍及國內(nèi)各省、市、自治區(qū)。幾年來，公司在加強經(jīng)營銷售及技術(shù)服務方面做了大量的工作，目前已經(jīng)在全國各地區(qū)建立了全國性的銷售、服務網(wǎng)絡，并有一批銷售人員和專業(yè)服務人員在各地走訪，專門為用戶服務?！?為使公司有更大地發(fā)展，創(chuàng)造更大的社會效益，更好地滿足市場需求，上海馨標檢測儀器有限公司愿同國內(nèi)外各界朋友、企業(yè)家竭誠合作，互惠互利，共同發(fā)展
加工方式 : 來圖加工;來樣加工;OEM加工;ODM加工;
工藝 : 組裝;
品牌名稱 : 馨標
質(zhì)量控制 : 內(nèi)部