用途
測(cè)量顯微鏡是光學(xué)計(jì)量?jī)x器之一種，它的結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，操作方便，適用范圍較廣，用途如下：
1．直角坐標(biāo)中測(cè)定長(zhǎng)度，例如測(cè)定孔距、基面距離、刻線寬度、鍵槽寬度、狹縫寬度、通
孔外圓直徑、電線電纜絕緣皮厚度等。
2．轉(zhuǎn)動(dòng)度盤測(cè)定角度，例如對(duì)刻度盤、樣板、量規(guī)、鉆孔模板及幾何形狀復(fù)雜的零件進(jìn)行
角度測(cè)量。
3．用作觀察顯微鏡，以比較法檢查工作表面光潔度，鑒定冶金工業(yè)的礦石標(biāo)本。檢定印刷
照相制版，檢驗(yàn)紡織纖維等等。
規(guī)格
物  鏡
目  鏡
顯微鏡
放大倍數(shù)
工作距離（mm）
視場(chǎng)直徑（mm）
放大倍數(shù)
焦距（mm）
放大倍數(shù)
焦距（mm）
2.5X/0.08
43.40
10X
25.00
25X
58.84
5.6
10X/0.25
17.13
100X
7.81
1.4
 
測(cè)量工作臺(tái)讀數(shù)裝置主要規(guī)格
X軸移動(dòng)測(cè)量范圍           50 mm
Y軸移動(dòng)測(cè)量范圍           13 mm
測(cè)微器分度值               0.01mm
測(cè)量臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)范圍             不限
測(cè)量臺(tái)刻度盤分度范圍       0°?360°
測(cè)量臺(tái)刻度盤之分度值       1°
測(cè)量臺(tái)刻度盤游標(biāo)讀數(shù)示值   6’
測(cè)量精度
儀器示值誤差：±（5+L/15）μm
儀器示值誤差：包括測(cè)量誤差與儀器系統(tǒng)誤差
注：測(cè)量地點(diǎn)溫度變化（20±3）℃
L-被測(cè)件長(zhǎng)度（mm）
儀器主要尺寸
測(cè)量臺(tái)與物鏡間之較大距離     80mm
測(cè)量工作臺(tái)直徑             120mm
儀器外形尺寸     262×220×325mm

直角坐標(biāo)中測(cè)定長(zhǎng)度 : 轉(zhuǎn)動(dòng)度盤測(cè)定角度 ;
規(guī)格 : 15測(cè)量顯微鏡 ;
加工定制 : 否 ;
裝箱數(shù) : 1 ;
適用范圍 : 以比較法檢查工作表面光潔度，鑒定冶金工業(yè)的礦石標(biāo)本。檢定印刷照相制版，檢驗(yàn)紡織纖維，電線電纜絕緣皮厚 ;
重量 : 10K（g） ;
儀器放大倍數(shù) : 25X、100X ;
物鏡放大倍數(shù) : 2.5X、10X ;
目鏡放大倍數(shù) : 10X ;
型號(hào) : 15J ;
** : 順成電子 ;
類型 : 光學(xué)顯微鏡 ;

本公司主要致力于生產(chǎn)各種安規(guī)、試驗(yàn)室、品*測(cè)設(shè)備，是**生產(chǎn)和開發(fā)電線電纜、插頭插座、開關(guān)、線材、連接器等檢測(cè)設(shè)備的制造商。產(chǎn)品符合IEC 、CCC、UL、CSA、VDE、JIS、KS、SEV、BSI、HD、KEMA、SSA等**有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。同時(shí)，代理經(jīng)銷精密測(cè)量?jī)x器、光學(xué)測(cè)量?jī)x器、科學(xué)計(jì)量測(cè)試儀器、進(jìn)口照明工業(yè)特種光源等。 公司自成立開始，即以“品質(zhì)、**、服務(wù)、敬業(yè)”作為公司宗旨，不斷吸取良好技術(shù)，不斷挑戰(zhàn)自身產(chǎn)品，以高科技為手段，憑借良好的技術(shù)人才和雄厚技術(shù)實(shí)力不斷地致力于新產(chǎn)品的開發(fā)和研究，解決各種安規(guī)測(cè)試問題和檢測(cè)難題，并為客戶提供較為**的試驗(yàn)設(shè)備和提供較為完整的試驗(yàn)室解決方案。 我們將憑借優(yōu)良的品質(zhì)及完善的售后服務(wù)，持續(xù)不斷的為您提供較滿意的產(chǎn)品和服務(wù)。
**名稱 : 順成