測量顯微鏡 15J 上光經(jīng)典型 上海光學(xué)中恒儀器
- 作者:上海中恒儀器有限公司 2016-01-09 19:45 1380
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用途測量顯微鏡15J,結(jié)構(gòu)簡單、操作方便和經(jīng)久**,適用范圍廣泛,主要用途如下:
1、坐標(biāo)中測定長度,例如:孔距、基面距離、刻線寬度、鍵槽寬度、狹縫寬度、內(nèi)、外圓直徑等。
2、轉(zhuǎn)動度盤測定角度,例如:樣板、量規(guī)鉆孔模板及幾何形狀復(fù)雜的零件進(jìn)行外形和角度測量。
3、用作觀察顯微鏡,以比較法檢查工作表面光潔度、鑒定冶金工業(yè)的礦石標(biāo)本、檢驗(yàn)纖維及印刷、照相和電子行業(yè)的細(xì)微作業(yè)等。
規(guī)格:物 鏡
目 鏡
顯微鏡
放大倍數(shù)
工作距離
(mm)
視場直徑
(mm)
放大倍數(shù)/數(shù)值孔徑
焦距(mm)
放大倍數(shù)
焦距(mm)
2.5×/ 0.08
43.40
10×
帶分劃板
25.00
25×
58.84
5.6
10×/ 0.25
17.13
100×
7.81
1.4
測量工作臺讀數(shù)裝置主要規(guī)格
X—軸移動測量范圍:50mm
Y—軸移動測量范圍:13mm
測微器分度值: 0.01mm
測量臺轉(zhuǎn)動范圍: 不限
測量臺刻度盤分度范圍: 0°~360°
測量臺刻度盤之分度值: 1°
測量臺刻度盤游標(biāo)讀數(shù)示值: 6′
測量精度:儀器示值誤差±(5+L/15)μm
L 被測件長度,單位mm
儀器示值誤差: 包括測量誤差與儀器系統(tǒng)誤差。
注: 測量地點(diǎn)溫度變化20℃±3℃主要尺寸:測量臺與物鏡之間較大距離: 80mm
測量工作臺直徑: 120mm
玻璃工作臺直徑: 80mm
儀器外形尺寸:(l×b×h) 262×220×325mm
儀器重量: 約10.6㎏
同類機(jī)型:數(shù)顯測量顯微鏡15JF
規(guī)格 : 15J ;
加工定制 : 否 ;
裝箱數(shù) : 1 ;
適用范圍 : 坐標(biāo)中測定長度,轉(zhuǎn)動度盤測定角度,用作觀察顯微鏡 ;
重量 : 10k(g) ;
儀器放大倍數(shù) : 25×、100× ;
物鏡放大倍數(shù) : 2.5×、10× ;
目鏡放大倍數(shù) : 10× ;
型號 : 15J ;
** : 上光 ;
類型 : 光學(xué)顯微鏡 ;
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**名稱 : 上光
產(chǎn)品價格:面議
發(fā)貨地址:上海上海包裝說明:不限
產(chǎn)品數(shù)量:不限產(chǎn)品規(guī)格:不限
信息編號:54559047公司編號:4797093
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