X-MET7000礦物分析儀具備移動實驗室分析功能，在現場就能為各種材料提供快速而可靠的分析，包括痕量元素和輕元素(從鎂元素開始)。它的最大特點是裝有一個大面積的硅漂移探測器，能提供快速分析(甚至在測量輕元素時)，同時檢測重要金屬時檢測下限能低至1ppm，從而使采礦和土壤分析得到了大大的優(yōu)化。
　　在勘探和采礦操作的計劃階段，對該場地的地質情況進行全面了解至關重要。X-MET7000手持分析儀從勘探、礦山制圖和品級監(jiān)控，到環(huán)境監(jiān)控的整個開采過程，展示了其引領市場的多功能性。
　　堅固耐用的手持式X射線熒光X-MET礦物分析儀大大地節(jié)省了分析成本，因為樣品基本不需要制備就可以在現場得到快速分析。操作者可輕松快速地用特定樣品進行校準，或創(chuàng)建和使用自定義校準設置以滿足特定要求，得到的結果具有可信度和完整的可追溯性。檢測數據可以結合GPS定位信息，更進一步提高勘探、礦山制圖和環(huán)境有害物質篩選效率。
　　X-MET7000系列配備了大面積高亮度觸摸屏，通過操作人員的配置，可以化合物列表或元素表的形式清晰地顯示出分析結果;同時其采用了智能直觀的圖形用戶界面，即便在最嚴酷的環(huán)境下也非常便于學習和操作。
　　X-MET7000礦物分析儀不需要外接電源，一塊電池單次充電可以持續(xù)使用長達12小時，這就大大減少了到偏遠地區(qū)需要攜帶的設備數量。
　　方案優(yōu)勢
　　X-MET7000礦物分析儀具備移動實驗室的分析功能，在現場就能為各種材料提供快速而可靠的分析，包括痕量元素和輕元素(從鎂元素開始)。它的最大特點是裝有一個大面積的硅漂移探測器，能提供快速分析(甚至在測量輕元素時)，同時檢測重要金屬時檢測下限能低至1ppm，從而使采礦和土壤分析得到了大大的優(yōu)化。無需昂貴的實驗室分析使用現場樣品進行快速靈活的自定義校準市場上最快的啟動時間幾秒鐘就能得到精確的現場分析結果一次充電可工作長達12小時基本不需要樣品制備X射線熒光(XRF)分析是一個已經驗證過的方法，應用于從勘探、礦山制圖和品級監(jiān)控，到環(huán)境監(jiān)控的整個開采過程。

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